X線回折の精密測定への応用

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J-GLOBAL ID：200902005473593061 整理番号：82A0348156

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著者 (1件)：
資料名：
巻： 48 号： 8 ページ： 979-984 発行年： 1982年08月
JST資料番号： F0268A ISSN： 0374-3543 CODEN： SEKIA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：解説発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

X線回折の精密測定への応用について概説し,X線望遠鏡,X線に...

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X線回折法

引用文献 (23件)：

1) P. A. J. de Korte, R. Giralt, J. N. Coste, C. Ernu, S. Frindel, J. Flamand and J. J. Contet : EXOSAT X-ray Imaging Optics, Appl. Opt., 20, (1981) 1080.
2) R. Giaccóni : The Einstein X-Ray Observatory, Sci. Amer., 242, (1980) 70.
3) H. Koops : Transmission Gratings for Soft X-Rays with 10,000 Lines per mm Produced by Electron Optical Means, Proc. 6th Int. Conf. X-Ray Optics and Microanalysis, Univ. of Tokyo Press, Tokyo, (1972) 29.H. Bräuninger, H. J. Einighammer and H. H. Fink : Fresnel Zone Plates as Lenses for Telescopy and Microscopy with Soft X-rays, Proc. 6th Int. Conf. X-Ray Optics and Microanalysis, Univ. of Tokyo Press, Tokyo, (1972) 17.
4) 高良和武 : 完全に近い単結晶における回折現象, X線結晶学 (下), 丸善 (1961) 849.
5) K. Kohra : Dynamical Asymmetric Diffraction and Its Applications to X-Ray Optical Systems, Proc. 6th Int. Conf. X-Ray Optics and Microanalysis, Univ. of Tokyo Press, Tokyo, (1972) 35.

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