文献

J-GLOBAL ID：200902008399127192   整理番号：83A0065129

光学的DPSKヘテロダイン型実験におけるBER性能に対する半導体レーザの位相雑音の影響

Effect of semiconductor laser phase noise on BER performance in an optical DPSK heterodyne-type experiment.

著者 (2件)： FAVRE F (CNET, France) ,  Le GUEN D (CNET, France)
資料名： Electronics Letters  (Electronics Letters)
巻： 18  号： 22  ページ： 964-965  発行年： 1982年10月28日 
JST資料番号： A0887A  ISSN： 0013-5194  CODEN： ELLEAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： PSK(位相シフトキーイング)のヘテロダイン差動検出をファイ...

シソーラス用語： 誤り率 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=83A0065129&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=A0887A") }}

分類 (2件)： 光通信方式・機器  (ND10000B) ,  半導体レーザ  (BD04070L)

タイトルに関連する用語 (7件)： 光学 ,  DPSK ,  ヘテロダイン ,  実験 ,  BER ,  半導体レーザ ,  位相雑音