文献

J-GLOBAL ID：200902009739532972   整理番号：92A0685672

表面力顕微鏡法による重合体表面のサブミクロメータ修飾

Submicrometer modification of polymer surfaces with a surface force microscope.

著者 (2件)： JIN X (Univ. Maine, Maine) ,  UNERTL W N (Univ. Maine, Maine)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 61  号： 6  ページ： 657-659  発行年： 1992年08月10日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面力顕微鏡の鋭いチップを用いて重合体表面上にサブミクロメー...

シソーラス用語： 表面改質 ,...
準シソーラス用語： 表面力顕微鏡 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=92A0685672&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=H0613A") }}

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

タイトルに関連する用語 (7件)： 表面力 ,  顕微鏡法 ,  重合 ,  体表面 ,  サブ ,  ミクロメータ ,  修飾