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J-GLOBAL ID：200902013460052056   整理番号：87A0115052

常圧焼結窒化ケイ素のX線残留応力測定と強度評価

X-ray residual stress measurement of silicon nitride ceramics.

著者 (4件)： 田中啓介 (京大 工) ,  栗村隆之 (京大 大学院) ,  松井英治 (京大 大学院) ,  秋庭義明 (京大 大学院)
資料名： X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集  (Proceedings of the Symposium on X-Ray Studies on Mechanical Behaviour of Materials)
巻： 23rd  ページ： 197-202  発行年： 1986年 
JST資料番号： F0605B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 常圧焼結窒化けい素のX線残留応力の測定にCuK<sub>α<...

シソーラス用語： 窒化ケイ素 ,...

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分類 (1件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 常圧焼結 ,  窒化ケイ素 ,  X線 ,  残留 ,  応力測定 ,  強度評価