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J-GLOBAL ID：200902014921241391   整理番号：87A0462821

走査電子顕微鏡及びX線マイクロアナライザによる紙の形態観察と分析

Applications of scanning electron microscope and electron probe X-ray microanalyzer to papers.

著者 (1件)： 浜田忠平 (山陽国策パルプ 商品開研)
資料名： 色材協会誌  (Journal of the Japan Society of Colour Material)
巻： 60  号： 8  ページ： 426-444  発行年： 1987年08月 
JST資料番号： F0174A  ISSN： 0010-180X  CODEN： SKYOAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザの原理及び構成,紙の各...

シソーラス用語： 電子顕微鏡観察 ,...
準シソーラス用語： 塗被紙

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分類 (1件)： 紙・紙製容器の性質・試験  (YL04020D)

引用文献 (57件)：

• 1) 永谷 隆 : “走査電子顕微鏡の基礎と応用” (日本電子顕微鏡学会関東支部編), p.4, 共立出版 (1983)
• 2) 四本晴夫 : ibid. P.59
• 3) 永谷 隆 : ibid. P.5
• 4) 小野昭成 : ibid. p.446
• 5) Goldstein, J. I. : “Practical Scanning Electron Microscopy”, p.74, Plenum Press, New York and London (1975)

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査電子顕微鏡 ,  X線マイクロアナライザ ,  紙 ,  形態観察 ,  分析