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J-GLOBAL ID：200902014923500084   整理番号：86A0412557

X線回折線の調和解析法によるタングステンの粉末およびやすり粉におけるミクロ組織パラメータの決定

Определение параметров тонкой структуры в порошках и опилках вольфрама методом гармонического анализа рентгеновских дифракционных линий.

著者 (3件)： КРАВЧИК А Е ,  МОШКИНА Т И ,  ОСМАКОВ А С
資料名： Zavodskaya Laboratoriya  (Zavodskaya Laboratoriya)
巻： 52  号： 6  ページ： 43-47  発行年： 1986年 
JST資料番号： R0131A  ISSN： 0321-4265  CODEN： ZVDLA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ロシア (RUS)  言語： ロシア語 (RU)

抄録/ポイント： X線回折線プロフィルの測定精度の増大と共に,干渉性散乱領域お...

シソーラス用語： 粉体 ,...

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分類 (2件)： X線回折法  (BK01020I) ,  格子欠陥の観察・実験技術  (BK12020U)

タイトルに関連する用語 (6件)： X線回折 ,  タングステン ,  粉末 ,  やすり ,  ミクロ組織 ,  パラメータ