原子間力顕微鏡のための片持ち梁針の微細加工

ALBRECHT T R; AKAMINE S; CARVER T E; QUATE C F

文献

J-GLOBAL ID：200902016540244036 整理番号：90A0742584

原子間力顕微鏡のための片持ち梁針の微細加工

Microfabrication of cantilever styli for the atomic force microscope.

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資料名：
巻： 8 号： 4 ページ： 3386-3396 発行年： 1990年07月
JST資料番号： C0789B ISSN： 0734-2101 CODEN： JVTAD6 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

原子間力顕微鏡(AFM)は表面トポロジーを立像化することがで...

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顕微鏡法

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