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J-GLOBAL ID：200902017455602850   整理番号：92A0607941

弾道性ミクロ構造におけるコンダクタンスゆらぎとカオス散乱

Conductance Fluctuations and Chaotic Scattering in Ballistic Microstructures.

著者 (5件)： MARCUS C M (Harvard Univ., Massachusetts) ,  RIMBERG A J (Harvard Univ., Massachusetts) ,  WESTERVELT R M (Harvard Univ., Massachusetts) ,  HOPKINS P F (Univ. California, California) ,  GOSSARD A C (Univ. California, California)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 69  号： 3  ページ： 506-509  発行年： 1992年07月20日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 1μmサイズの円盤とスタジアム形の量子閉込め点に量子点接触リ...

シソーラス用語： 電気抵抗 ,...
準シソーラス用語： 弾導輸送 ,...

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分類 (1件)： 半導体-半導体接触【’81~’92】  (BM03072N)

タイトルに関連する用語 (5件)： 弾道 ,  ミクロ構造 ,  コンダクタンスゆらぎ ,  カオス ,  散乱