文献
J-GLOBAL ID:200902018059724019   整理番号:88A0270402

SOCRATES 高能率自動テストパタン発生システム

SOCRATES: A highly efficient automatic test pattern generation system.
著者 (3件):
資料名:
巻:号:ページ: 126-137  発行年: 1988年01月 
JST資料番号: B0142C  ISSN: 0278-0070  CODEN: ITCSDI  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
組合せ回路及びスキャンベースの回路のテストパタン発生の高速化...
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
,...
   続きはJDreamIII(有料)にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=88A0270402&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0142C") }}
分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性  ,  論理回路 
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る