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J-GLOBAL ID：200902018059724019   整理番号：88A0270402

SOCRATES 高能率自動テストパタン発生システム

SOCRATES: A highly efficient automatic test pattern generation system.

著者 (3件)： SCHULZ M H (Technical Univ. Munich, Munich, DEU) ,  TRISCHLER E (Siemens AG, Munich, DEU) ,  SARFERT T M (Siemens AG, Munich, DEU)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 7  号： 1  ページ： 126-137  発行年： 1988年01月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 組合せ回路及びスキャンベースの回路のテストパタン発生の高速化...

シソーラス用語： テストパターン ,...

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 高能率 ,  自動テスト ,  パタン ,  発生システム