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J-GLOBAL ID：200902018987217071   整理番号：81A0227494

LSIボードの素子を結ぶバスに関する高精度の故障診断法

A technique for precise fault diagnosis on device-laden buses of LSI boards.
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著者 (2件)：
HOFFMAN M

HOFFMAN M について

(Teradyne, Inc., Mass.)

Teradyne, Inc., Mass. について

, 
WRINN J

WRINN J について

(Teradyne, Inc., Mass.)

Teradyne, Inc., Mass. について


資料名：
Proceedings of the Technical Program. National Electronic Packaging and Production Conference  (Proceedings of the Technical Program. National Electronic Packaging and Production Conference)

Proceedings of the Technical Program. National Electronic Packaging and Production Conference について


巻： 1978  ページ： 371-376  発行年： 1978年 
JST資料番号： H0116B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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複雑なバス指向のボードの故障分離に関する具体的な問題点とその...
シソーラス用語：
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LSI【IC】

LSI【IC】 について

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分類 (2件)：
分類
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集積回路一般 
(NC03161C)

集積回路一般 について

,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
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ボード

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, 
バス

バス について

, 
故障診断

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