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J-GLOBAL ID：200902019690705090   整理番号：83A0026116

走査トンネル顕微鏡法による表面研究

Surface studies by scanning tunneling microscopy.

著者 (4件)： BINNING G (IBM, Switzerland) ,  ROHRER H (IBM, Switzerland) ,  GERBER Ch (IBM, Switzerland) ,  WEIBEL E (IBM, Switzerland)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 49  号： 1  ページ： 57-61  発行年： 1982年07月05日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査トンネル顕微鏡(STM)の構成および走査原理について説明...

シソーラス用語： トンネル効果 ,...
準シソーラス用語： STM

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分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  金属の表面構造  (BK15020P)

タイトルに関連する用語 (2件)： 走査トンネル顕微鏡 ,  研究