Two-pattern test capabilities of autonomous TPG circuits.

文献

J-GLOBAL ID：200902027317896627 整理番号：92A0261472

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資料名：
巻： 1991 ページ： 704-711 発行年： 1991年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別：会議録 (C)
発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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