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J-GLOBAL ID：200902029585868728   整理番号：82A0227304

光学ファイバによる研削仕上げ面あらさのインプロセス測定

著者 (3件)： 井上順章 (慶応大大学院) ,  稲崎一郎 (慶応大理工) ,  米津栄 (慶応大理工)
資料名： 日本機械学会論文集 C編  (Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers. Series C)
巻： 47  号： 424  ページ： 1672-1679  発行年： 1981年12月 
JST資料番号： F0045B  ISSN： 0387-5024  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本報は,標題のあらさ測定できる実用的なセンサを開発すること目...

シソーラス用語： 研削 ,...

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分類 (1件)： 研削  (QC03000R)

引用文献 (8件)：

• (1)内田•ほか2名,機論,46-407,C(昭55),771.
• (2)Murray, H. 28th General Assembly of CIRP, (1973), 1.
• (3)和田•ほか2名,昭和55年度精機学会春季大会学術講演会論文集,(昭55),869.
• (4)斎藤•三次,精密機械,40-2(昭49),129.
• (5)斎藤•三次,精密機械,40-3(昭49),227).

タイトルに関連する用語 (4件)： 光学ファイバ ,  研削仕上げ ,  面あらさ ,  インプロセス測定