文献

J-GLOBAL ID：200902029828392999   整理番号：93A0090885

電子線超音波顕微鏡の基礎と転位線観察への応用

Invitation of Electron-Acoustic Microscopy and its Application to Observation of Dislocation Lines.

著者 (1件)： 竹野下寛 (大阪府大 工)
資料名： 電子顕微鏡  (日本電子顕微鏡学会会報)
巻： 27  号： 2  ページ： 111-120  発行年： 1992年11月 
JST資料番号： Y0541A  ISSN： 0417-0326  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 電子線超音波顕微鏡(EAM)を使って試料表面のAl電極(3μ...

シソーラス用語： 結晶 ,...
準シソーラス用語： 電子線超音波顕微鏡 ,...

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分類 (1件)： 格子欠陥の観察・実験技術  (BK12020U)

引用文献 (49件)：

• 1) Cargill, G. S. III: Nature, 286, 691 (1980)
• 2) Cargill, G. S. III: Scaned Image Microscopy, ed. Ash, E. A. (Academic Press, New York, 1981) p. 319
• 3) Cargill, G. S. III: Physics Today, Oct. 1981, p. 28
• 4) Brandis, E. and Rosencwaig, A.: Appl. Phys. Lett., 34, 98 (1980)
• 5) Rosencwaig, A.: Scaned Image Microscopy, ed. Ash, E. A. (Academic Press, New York, 1981) p. 291

タイトルに関連する用語 (4件)： 電子線超音波顕微鏡 ,  基礎 ,  観察 ,  応用