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J-GLOBAL ID：200902032701944888   整理番号：84A0450638

液晶の表面からのX線の反射率 表面構造および臨界ゆらぎの絶対値

X-ray reflectivity from the surface of a liquid crystal: Surface structure and absolute value of critical fluctuations.

著者 (2件)： PERSHAN P S (Harvard Univ., Massachusetts) ,  ALS-NIELSEN J (Riso National Lab., Denmark)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 52  号： 9  ページ： 759-762  発行年： 1984年02月27日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ネマチック液晶(80CB)の表面からのX線(λ=1.54Å)...

シソーラス用語： ネマチック相 ,...
準シソーラス用語： 80CB ,...

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分類 (2件)： ネマチック相  (BK03020W) ,  X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (6件)： 液晶 ,  X線 ,  反射率 ,  表面構造 ,  臨界ゆらぎ ,  絶対値