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J-GLOBAL ID：200902032789174653   整理番号：87A0130609

X線検出器のパルス較正技術

Pulse calibration technique of X-ray detector.

著者 (1件)： SUN J-W (Southwest Inst. Fluid Physics, Chengdu, CHN)
資料名： Wuli Xuebao  (Wuli Xuebao)
巻： 35  号： 7  ページ： 864-873  発行年： 1986年07月 
JST資料番号： B0628A  ISSN： 1000-3290  CODEN： WLHPA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 10¹⁸-10¹⁹KX線sr^-1s^-1のフラックス強度パルスCu KX線源を大電流電子ビーム技術を用いて製作する。本装置をシリコンPINダイオード検出器のパルスX線光子に対する応答を較正するのに使用する。絶対X線モニタP10気体パルス電離箱をパルスX線フラックス密度の標準として使用する。自動パルス放電測定装置をマイクロコンピュータで実時間で制御および補正する。フラックス密度の測定誤差は±5%である。本電離箱は4×10^-9-2×10²W/cm²のエネルギーフラックス率と1.5-10keVの光子エネルギー範囲に適する。検出器の較正精度は±7.0%である。シリコンPINダイオードのパルス感度は定常X線ビームで較正した感度より約30%高いことを見い出す

シソーラス用語： X線検出 ,  パルス波 ,  Si半導体検出器 ,  PINダイオード ,  キャリブレーション ,  電離箱 ,  インパルス応答

分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (3件)： X線検出器 ,  パルス ,  較正