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J-GLOBAL ID：200902033670124697   整理番号：87A0394393

原子間力顕微鏡を用いた原子分解能

Atomic resolution with atomic force microscope.

著者 (5件)： BINNIG G (IBM Research Division, Rueschlikon, CHE) ,  GERBER CH (IBM Research Division, Rueschlikon, CHE) ,  STOLL E (IBM Research Division, Rueschlikon, CHE) ,  ALBRECHT T R (Stanford Univ., CA, USA) ,  QUATE C F (Stanford Univ., CA, USA)
資料名： Europhysics Letters  (Europhysics Letters)
巻： 3  号： 12  ページ： 1281-1286  発行年： 1987年06月15日 
JST資料番号： D0701B  ISSN： 0295-5075  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： フランス (FRA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 原子間力顕微鏡は導電体や絶縁体の両方の表面構造を研究する有望...

シソーラス用語： 電子顕微鏡観察 ,...
準シソーラス用語： 黒鉛

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分類 (2件)： 固体の表面構造一般  (BK15010E) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (2件)： 原子間力顕微鏡 ,  原子分解能