文献

J-GLOBAL ID：200902034686672640   整理番号：86A0154145

LSIへの放射線の影響

Radiation effects on LSI.

著者 (4件)： 塩野登 (NTT) ,  嶋屋正一 (NTT) ,  山口力 (NTT) ,  坂川義満 (NTT)
資料名： 応用物理  (JSAP International)
巻： 55  号： 3  ページ： 243-247  発行年： 1986年03月 
JST資料番号： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年LSIの新しい応用分野として,宇宙や原子炉などの放射線環...

シソーラス用語： レビュー ,...

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分類 (3件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

引用文献 (14件)：

• 1) IEEE Trans. Nucl. Sci. の毎年12,月号に特集として掲載されている.
• 2) T. V. Nordstrom, R. W. Light and F. W. Sexton: Proc. 5th IEEE Custom IC Conf. (1983) p. 43.
• 3) E. G. Stassinopoulos: J. Spacecr. & Rockets 17 (1980) 145.
• 4) J. H. Adams, Jr., R. Silberberg and C. H. Tsao: IEEE Trans. Nucl. Sci. NS-29 (1982) 169.
• 5) T. C. May and H. Woods: IEEE Trans. Elec-tron Devices ED-26 (1979) 2.

タイトルに関連する用語 (2件)： LSI ,  放射線