文献

J-GLOBAL ID：200902042145237323   整理番号：83A0138261

照射ポリマー薄膜における電荷分布の測定を目的とした非破壊レーザー法

Nondestructive laser method for measuring charge profiles in irradiated polymer films.

著者 (4件)： SESSLER G M (Bell Lab., NJ) ,  WEST J E (Bell Lab., NJ) ,  GERHARD-MULTHAUPT R (Bell Lab., NJ) ,  Von SEGGERN H (Bell Lab., NJ)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 29  号： 6  ページ： 1644-1649  発行年： 1982年12月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ポリマー薄膜(厚さ>10μm)の厚さ方向の相対的電荷密度分布...

シソーラス用語： 電荷分布 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=83A0138261&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0235A") }}

分類 (2件)： 電流,電圧,電荷の計測法・機器  (AD07020C) ,  その他の物質の放射線による構造と物性の変化  (BK16124V)

タイトルに関連する用語 (3件)： ポリマー薄膜 ,  電荷分布 ,  レーザー