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J-GLOBAL ID：200902042197174710   整理番号：84A0161314

CMOSデバイスに対する新しい故障モデルと試験技術

A new fault model and testing technique for CMOS devices.

著者 (2件)： MALAIYA Y K (State Univ. New York) ,  SU S Y H (State Univ. New York)
資料名： Proceedings. International Test Conference  (Proceedings. International Test Conference)
巻： 1982  ページ： 25-34  発行年： 1982年 
JST資料番号： E0211B  ISSN： 1089-3539  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： CMOSデバイスに関してコンダクタンス故障モデルと呼ぶ新しい...

シソーラス用語： MOS集積回路 ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： CMOS ,  故障モデル ,  試験