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J-GLOBAL ID：200902043313529854   整理番号：89A0178914

周波数選択性表面の解析法 レビュー

Techniques for analyzing frequency selective surfaces - A review.
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著者 (3件)：
MITTRA R

MITTRA R について

(Univ. Illinois, IL, USA)

Univ. Illinois, IL, USA について

, 
CHAN C H

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(Univ. Illinois, IL, USA)

Univ. Illinois, IL, USA について

, 
CWIK T

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(California Inst. Technology, CA, USA)

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資料名：
Proceedings of the IEEE  (Proceedings of the IEEE)

Proceedings of the IEEE について


巻： 76  号： 12  ページ： 1593-1615  発行年： 1988年12月 
JST資料番号： D0378A  ISSN： 0018-9219  CODEN： IEEPAD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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マイクロ波および光のフィルタとして使われる周波数選択性表面(...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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周波数依存性

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散乱行列

散乱行列 について


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分類 (1件)：
分類
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電磁気学一般 
(BD01020N)

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タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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周波数選択性

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解析法

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レビュー

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