文献

J-GLOBAL ID：200902043881439096   整理番号：89A0553290

X線回折による表面構造の決定

Surface structure determination by X-ray diffraction.

著者 (1件)： FEIDENHANS’L R (Riso National Lab., Roskilde, Denmark)
資料名： Surface Science Reports  (Surface Science Reports)
巻： 10  号： 3  ページ： 105-188  発行年： 1989年05月 
JST資料番号： E0422B  ISSN： 0167-5729  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： よく研究されているSi(111)表面に重点を置き,半導体(S...

シソーラス用語： 表面再構成 ,...

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分類 (2件)： 固体の表面構造一般  (BK15010E) ,  固-気界面一般  (CB12041H)

タイトルに関連する用語 (2件)： X線回折 ,  表面構造