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J-GLOBAL ID：200902045281954151   整理番号：86A0230834

ピコ秒電子装置の試験に用いる電子光学的サンプリング II 応用

Electro-optic sampling: testing picosecond electronics. Part 2 Applications.
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著者 (2件)：
VALDMANIS J A

VALDMANIS J A について

(AT&T, NJ)

AT&T, NJ について

, 
MOUROU G

MOUROU G について

(Univ. Rochester, NY)

Univ. Rochester, NY について


資料名：
Laser Focus  (Laser Focus)

Laser Focus について


巻： 22  号： 3  ページ： 96-98,100,102,104,106  発行年： 1986年03月 
JST資料番号： B0681B  ISSN： 0740-2511  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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最も高い時間分解能が得られる電子-光学的サンプリングの五つの...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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パルスレーザ

パルスレーザ について

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準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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MODFET

MODFET について

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分類 (2件)：
分類
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レーザの応用 
(BD04100V)

レーザの応用 について

,  その他の光伝送素子 
(BD06040S)

その他の光伝送素子 について

タイトルに関連する用語 (6件)：
タイトルに関連する用語
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ピコ秒

ピコ秒 について

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電子装置

電子装置 について

, 
試験

試験 について

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電子光学

電子光学 について

, 
サンプリング

サンプリング について

, 
応用

応用 について


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