文献

J-GLOBAL ID：200902045905737673   整理番号：89A0292321

高周波誘導結合プラズマ(ICP)発光分析法による固体試料中微量成分の直接分析

Determination of trace elements by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry using direct solid sample insertion technique.

著者 (3件)： 藤本京子 (川崎製鉄) ,  岡野輝雄 (川崎製鉄) ,  松村泰治 (川崎製鉄)
資料名： 材料とプロセス  (日本鉄鋼協会講演論文集)
巻： 2  号： 2  ページ： 536-539  発行年： 1989年03月 
JST資料番号： X0994A  ISSN： 0914-6628  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ICP法による固体試料の直接分析について検討し,原子化条件と...

シソーラス用語： ICP-ES分析 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=89A0292321&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=X0994A") }}

分類 (1件)： 金属,合金の物理分析  (CC03040V)

タイトルに関連する用語 (8件)： 高周波 ,  誘導結合プラズマ ,  ICP ,  発光分析法 ,  固体 ,  試料 ,  微量成分 ,  分析