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J-GLOBAL ID：200902049350637240   整理番号：89A0227406

全反射減衰法による薄膜・表面物性の評価

Evaluation of physical properties of thin films and material surfaces by attenuated total reflection technique.

著者 (2件)： 福井万寿夫 (徳島大 工) ,  原口雅宣 (徳島大 工)
資料名： 日本物理学会誌
巻： 43  号： 11  ページ： 862-868  発行年： 1988年11月 
JST資料番号： F0221A  ISSN： 0029-0181  CODEN： NBGSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 標記ATRによる薄膜や表面特性の観測の基本を中心に解説。AT...

シソーラス用語： ATR分光法 ,...

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分類 (3件)： 光物性一般  (BM08010A) ,  ポラリトン  (BM02140A) ,  その他の物理分析  (CC03014E)

引用文献 (20件)：

• 1) Suface Polaritons, ed. V.M. Agranovich and A.A. Maradudin (North-Holland, Amsterdam, 1982).
• 2) Electromagnetic Surface Modes, ed. A.D. Boardman (John Wiley & Sons, New York, 1982).
• 3) 潮田資勝:物性15 (1974) 57.
• 4) 国府田隆夫,平林泉,十倉好紀:応用物理45 (1976) 1069.
• 5) 辻幹男:固体物理20 (1985) 1.

タイトルに関連する用語 (4件)： 全反射減衰法 ,  薄膜 ,  表面物性 ,  評価