文献

J-GLOBAL ID：200902052066128000   整理番号：93A0074745

走査トンネル顕微鏡における探針とSi表面との相互作用およびその原子操作への応用

Tip-sample interactions in the scanning tunneling microscope and their application to atom manipulation.

著者 (6件)： 青野正和 (理研) ,  小林中 (新技術事業団) ,  GREY F (新技術事業団) ,  内田裕久 (新技術事業団) ,  HUANG D H (新技術事業団) ,  吉信淳 (理研)
資料名： 応用物理  (JSAP International)
巻： 61  号： 12  ページ： 1264-1268  発行年： 1992年12月 
JST資料番号： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 走査トンネル顕微鏡(STM)を用いたSi表面の原子単位での構...

シソーラス用語： 走査型トンネル顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： 原子操作

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分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  半導体の表面構造  (BK15030A)

引用文献 (19件)：

• BINNING, G. Helvetica Phys. Acta. 1982, 55, 762
• BINNING, G. Surf. Sci. 1983, 126, 236
• BECKER, R. S. Nature. 1987, 325, 419
• EIGLER, D. M. Nature. 1990, 344, 524
• EIGLER, D. M. Nature. 1991, 352, 600

タイトルに関連する用語 (6件)： 走査トンネル顕微鏡 ,  探針 ,  Si ,  相互作用 ,  原子操作 ,  応用