文献
J-GLOBAL ID：200902052131624516 整理番号：92A0144988
電子部品の損傷とその評価法
Damage of electronic component and its evaluation method.
出版者サイト
複写サービスで全文入手
{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=92A0144988©=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで
{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=92A0144988&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L0191A") }}
著者 (1件)：
河合末男
河合末男 について
名寄せID(JGPN) 200901100394975012 ですべてを検索
「河合末男」ですべてを検索
(
日立 機械研
)
日立 機械研 について
名寄せID(JGON) 201551000097314540 ですべてを検索
「日立 機械研」ですべてを検索
機関情報を見る
資料名：
日本機械学会材料力学部門講演会講演論文集 (日本機械学会M&M材料力学カンファレンス講演論文集)
日本機械学会材料力学部門講演会講演論文集 について
JST資料番号 L0191A ですべてを検索
資料情報を見る
巻：
1991-A
ページ：
494-497
発行年：
1991年10月
JST資料番号：
L0191A
資料種別：
会議録 (C)
記事区分：
短報
発行国：
日本 (JPN)
言語：
日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
電子部品としてLSIを取上げ,シリコン素子,半導体パッケージ...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
電子部品
電子部品 について
「電子部品」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,...
続きはJDreamIII（有料）にて
{{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=92A0144988&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L0191A") }}
分類 (1件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
電気・電子部品一搬
(NA05010H)
電気・電子部品一搬 について
分類コード NA05010H で文献を検索
分類コード4桁 NA05 で文献を検索
タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
電子部品
電子部品 について
「電子部品」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
損傷
損傷 について
「損傷」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
評価法
評価法 について
「評価法」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
前のページに戻る
TOP
BOTTOM
