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J-GLOBAL ID：200902052854595190   整理番号：85A0235459

LAと新しい試験・分析機器 SEM・EPMAによる紙の構造観察と分析

LA and new instruments for test and analysis. Paper structure observation and analysis using SEM and EPMA.

著者 (1件)： 浜田忠平 (山陽国策パルプ総研)
資料名： 紙パルプ技術タイムス  (Japanese Journal of Paper Technology)
巻： 28  号： 6  ページ： 17-27  発行年： 1985年05月 
JST資料番号： Y0280A  ISSN： 0453-1507  CODEN： KPGTAW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 走査電子顕微鏡(SEM)とX線マイクロアナライザー(EPMA...

シソーラス用語： 紙特性 ,...
準シソーラス用語： 塗被紙

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分類 (1件)： 紙・紙製容器の性質・試験  (YL04020D)

タイトルに関連する用語 (8件)： La ,  試験 ,  分析機器 ,  SEM ,  EPMA ,  紙 ,  観察 ,  分析