<sup>28</sup>SiHラジカルの赤外発光スペクトル  X<sup>2</sup>Π基底状態の1-0,2-1,3-2回転振動バンドの観測と解析

BETRENCOURT M; BOUDJAADAR D; CHOLLET P; GUELACHVILI G; MORILLON-CHAPEY M

文献

J-GLOBAL ID：200902054703987430 整理番号：86A0315530

²⁸SiHラジカルの赤外発光スペクトル X²Π基底状態の1-0,2-1,3-2回転振動バンドの観測と解析

Infrared emission spectrum of the radical ²⁸SiH: Observation and analysis of the rovibrational bands 1-0, 2-1, and 3-2 in the X²Π ground state.

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巻： 84 号： 8 ページ： 4121-4126 発行年： 1986年04月15日
JST資料番号： C0275A ISSN： 0021-9606 CODEN： JCPSA6 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

ダイオードレーザ分光器および高情報Fourier変換分光器を...

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無機化合物の赤外・Ramanスペクトル(分子)

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28SiHラジカルの赤外発光スペクトル X2Π基底状態の1-0,2-1,3-2回転振動バンドの観測と解析

²⁸SiHラジカルの赤外発光スペクトル X²Π基底状態の1-0,2-1,3-2回転振動バンドの観測と解析