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J-GLOBAL ID：200902058042262544   整理番号：87A0051380

X線・電子線回折による精密測定 X線回折による格子定数の精密測定

Accurate determination of crystal structures by X-ray and electron diffraction methods - Precise measurements of lattice parameter by using X-ray diffraction.

著者 (2件)： 高野幸男 (日立 中研) ,  石場努 (日立 中研)
資料名： 応用物理  (JSAP International)
巻： 55  号： 10  ページ： 955-956  発行年： 1986年10月 
JST資料番号： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 単結晶を用いたX線回折による格子定数の精密測定方法とその測定...

シソーラス用語： X線回折 ,...

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分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

引用文献 (13件)：

• 1) W. L. Bond: Acta Cryst. 18 (1960) 814.
• 2) Y. Okada, Y. Tokumaru and Y. Kadota: Appl. Phys. Lett. 48 (1886) 975.
• 3) M. Nakajima, T. Sato, T. Inada. T. Fukuda and K. Ishida: 4th Couf. Semi-Insulating III-V Materials(印刷中).
• 4) K. Terashima, O. Ohmori, A. Okada, M. Watanabe and T. Nakanishi: 4th Conf. Semi-Insulating III-V Materials(印刷中).
• 5) S. Kikuta, K. Kohra and Y. Sugita: Jpn. J. appl. Phys. 5 (1966) 1047.

タイトルに関連する用語 (5件)： X線 ,  電子線回折 ,  精密測定 ,  X線回折 ,  格子定数