光プローブを使用する表面空間電荷容量の決定法

KAMIENIECKI E

文献

J-GLOBAL ID：200902058714918796 整理番号：83A0117198

光プローブを使用する表面空間電荷容量の決定法

Determination of surface space charge capacitance using a light probe.

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=83A0117198&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=83A0117198&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0789A") }}

著者 (1件)：
資料名：
巻： 20 号： 3 ページ： 811-814 発行年： 1982年03月
JST資料番号： C0789A ISSN： 0022-5355 CODEN： JVSTAL 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

半導体の特性を調べる新しい方法として,表面光起電力から表面空...

,...

続きはJDreamIII（有料）にて {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=83A0117198&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0789A") }}

半導体-金属接触【’81~’92】 , 表面の電子構造 , 光伝導,光起電力

前のページに戻る