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J-GLOBAL ID：200902060974525059   整理番号：90A0277600

電流テストのためのテスト生成

Test generation for current testing.
著者 (2件)：
NIGH P

NIGH P について

(IBM Corp.)

IBM Corp. について

, 
MALY W

MALY W について

(Carnegie Mellon Univ.)

Carnegie Mellon Univ. について


資料名：
IEEE Design & Test of Computers  (IEEE Design & Test of Computers)

IEEE Design & Test of Computers について


巻： 7  号： 1  ページ： 26-38  発行年： 1990年02月 
JST資料番号： B0007C  ISSN： 0740-7475  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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CMOS ICのテストに有効な電流テストの方式は,ICに電流...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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CMOS構造

CMOS構造 について

,...
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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チップ【IC】

チップ【IC】 について


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分類 (1件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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テスト

テスト について

, 
テスト生成

テスト生成 について


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