走査電子顕微鏡及びX線元素分析法を用いるミクロン及びサブミクロンフライアッシュ粒子の比較

KAUFHERR N; LICHTMAN D

文献

J-GLOBAL ID：200902064100719983 整理番号：84A0429022

走査電子顕微鏡及びX線元素分析法を用いるミクロン及びサブミクロンフライアッシュ粒子の比較

Comparison of micron and submicron fly ash particles using scanning electron microscopy and X-ray elemental analysis.

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資料名：
巻： 18 号： 7 ページ： 544-547 発行年： 1984年07月
JST資料番号： B0839A ISSN： 0013-936X CODEN： ESTHA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

石炭火力発電所で採取したフライアッシュのサブミクロン画分(平...

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粒状物調査測定

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