薄い異方性導体の抵抗テンソルパラメータを6端子法によって測定する理論

文献

J-GLOBAL ID：200902064267935270 整理番号：91A0200742

A measuring theorem of the resistivity tensor parameters of thin anisotropic conductors by a six-probe method.

出版者サイト {{ this.onShowPLink() }} 複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=91A0200742&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=91A0200742&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=S0808A") }}

著者 (2件)： ,
資料名：
巻： 110 号： 12 ページ： 927-928 発行年： 1990年12月
JST資料番号： S0808A ISSN： 0385-4205 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

4端子法が従来半導体技術における標準方法として広く使われてき...

,...

続きはJDreamIII（有料）にて {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=91A0200742&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=S0808A") }}

回路理論一般

, ,

前のページに戻る