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J-GLOBAL ID：200902065889518142   整理番号：84A0470039

固体試料のPIXE分析に対する350kVイオン加速器の特殊利用

Specific applications of a 350 kV ion accelerator for PIXE analysis of solid state samples.
著者 (1件)：
LINDNER G

LINDNER G について

(Univ. Konstanz, Fed Rep Germany)

Univ. Konstanz, Fed Rep Germany について


資料名：
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)

Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms について


巻： 231  号： 1/3  ページ： 130-134  発行年： 1984年04月 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)
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1MeV以下の陽子ビームを用いるPIXE法は,重元素の検出限...
シソーラス用語：
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X線分光分析

X線分光分析 について

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陽子励起X線分析

陽子励起X線分析 について


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分類 (1件)：
分類
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その他の物理分析 
(CC03014E)

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試料

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PIXE分析

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, 
イオン加速器

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