文献

J-GLOBAL ID：200902067106670187   整理番号：87A0235300

走査トンネル顕微鏡による表面研究

Surface studies with the scanning tunneling microscope.

著者 (3件)： TROMP R M (IBM Thomas J, Watson Research Center, NY, USA) ,  HAMERS R J (IBM Thomas J, Watson Research Center, NY, USA) ,  DEMUTH J E (IBM Thomas J, Watson Research Center, NY, USA)
資料名： 応用物理  (JSAP International)
巻： 56  号： 2  ページ： 199-205  発行年： 1987年02月 
JST資料番号： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査トンネル顕微鏡(STM)は短期間に今日の表面研究の重要な...

シソーラス用語： 表面構造 ,...
準シソーラス用語： 走査トンネル顕微鏡法 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=87A0235300&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=F0252A") }}

分類 (2件)： 半導体の表面構造  (BK15030A) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (15件)：

• 1) G. Binnig, H. Rohrer, C. Gerber and E. Weibel: Phys. Rev. Lett. 50 (1983) 120.
• 2) Proc. the First Int. Workshop on STM, 1985, IBM J. Res. & Dev. 30 (1986) No. 4 and 5.
• 3) J. E. Demuth, R. J. Hamers, R. M. Tromp, and M. E. Welland: Vac. Sci. & Technol. A4 (1986) 1320.
• 4) R. J. Hamers, R. M. Tromp and J. E. Demuth: Phys. Rev. Lett. 56 (1986) 1972.
• 5) R. M. Tromp, R. J. Hamers and J. E. Demuth: Science 234 (1986) 304.

タイトルに関連する用語 (2件)： 走査トンネル顕微鏡 ,  研究