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J-GLOBAL ID：200902068432446846   整理番号：86A0359069

2mm移動しま干渉計の開発と電子密度測定におけるその応用

Development of a 2mm moving streak interferometer and its application in electron density detection.

著者 (3件)： LIU Y ,  LI W ,  YANG X
資料名： Wuli  (Wuli)
巻： 15  号： 2  ページ： 107-108  発行年： 1986年02月 
JST資料番号： E0473A  ISSN： 0379-4148  CODEN： WULIA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 標題装置で電離気体電子密度を観測した結果比較的正確で,受けたノイズも少なかった。4×10¹³/cm³の高電子密度を観測した。非線形的の誤差と入射波に対する屈折反応を減少させることができた。また2mm系列と4mm系列を合成した一つの混合干渉計も開発した。電子と電磁波の相互作用を利用した原理と実験結果について記載

シソーラス用語： 干渉縞 ,  干渉計 ,  電子密度 ,  電離気体 ,  電磁波入射 ,  プラズマ診断

分類 (1件)： プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (5件)： しま ,  干渉計 ,  開発 ,  電子密度 ,  応用