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J-GLOBAL ID:200902068645008460   整理番号:90A0114422

MOMBEによるメタリックp型GaAsの成長と評価

Characterization of metallic p-type GaAs grown by metalorganic molecular beam epitaxy.
著者 (7件):
資料名:
巻: 59  号:ページ: 47-53  発行年: 1990年01月 
JST資料番号: F0252A  ISSN: 0369-8009  CODEN: OYBSA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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MBE法に有機金属を導入したMOMBE法を用い,GaAs中へ...
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分類 (2件):
分類
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半導体薄膜  ,  半導体-半導体接触【’81~’92】 
引用文献 (20件):
  • 1) W. V. McLevige, K. V. Vaidyanathan, B. G. Streetman, M. Ilegems, J. Comas and L. Plew: Appl. Phys. Lett. 33 (1978) 127.
  • 2) 小長井誠:日本学術振興会極限構造電子物性第151委員会第3回研究会資料 (1986) p. 8.
  • 3) M. Konagai, K. Katsukawa and K. Takahashi: J. Appl. Phys. 48 (1977) 4389.
  • 4) E. Tokumitsu, Y. Kudou, M. Konagai and K. Takahashi: J. Appl. Phys. 55 (1984) 3163.
  • 5) K. Saito, E. Tokumitsu, T. Akatsuka, M. Miyauchi, T. Yamada, M. Konagai and K. Takahashi: J. Appl. Phys. 64 (1988) 3975.
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