電気抵抗法による表面欠陥高さの測定  非破壊試験による欠陥寸法の測定精度に関する研究 III

横田理; 石井勇五郎

文献

J-GLOBAL ID：200902069735589530 整理番号：86A0210601

電気抵抗法による表面欠陥高さの測定非破壊試験による欠陥寸法の測定精度に関する研究 III

Measurement of surface crack height by electrical resistance method. Investigation on the accuracy of crack size measurement by nondestructive testing. Part 3.

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巻： 35 号： 1 ページ： 17-25 発行年： 1986年01月
JST資料番号： G0027A ISSN： 0367-5866 CODEN： HIHKA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

長さ10~30mm,高さ1~7mmの人工欠陥を用い,欠陥寸法...

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非破壊試験

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