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J-GLOBAL ID：200902071613012768   整理番号：87A0546385

小さいトンネル接合における単電子充電効果の観測

Observation of single-electron charging effects in small tunnel junctions.

著者 (2件)： FULTON T A (AT & T Bell Lab., NJ, USA) ,  DOLAN G J (AT & T Bell Lab., NJ, USA)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 59  号： 1  ページ： 109-112  発行年： 1987年07月06日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 接合面積が0.001~0.03μmの低容量(≦1fF)多重接...

シソーラス用語： トンネル接合 ,...
準シソーラス用語： 電子電荷

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分類 (1件)： 金属-絶縁体-金属構造【’81~’92】  (BM03076D)

タイトルに関連する用語 (4件)： トンネル接合 ,  電子 ,  充電 ,  観測