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J-GLOBAL ID:200902071714851264   整理番号:89A0356168

IC樹脂封止材の凝固解析 金型キャビティ内充てん後の温度解析

Analysis of curing for resin molding of IC. Temperature analysis after the end of filling in a mold cavity.
著者 (2件):
資料名:
巻: 55  号:ページ: 1097-1102  発行年: 1989年06月 
JST資料番号: F0268A  ISSN: 0912-0289  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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樹脂の発熱速度と温度の関係を示す近似式を,実験結果を参考に提...
シソーラス用語:
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準シソーラス用語:
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分類 (1件):
分類
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固体デバイス材料 
引用文献 (11件):
  • 1) 坂本光雄 : 電子材料のエコノミックスと市場展開, 電子材料, 20(1981)18.
  • 2) 例えば : LSIパッケージングで差をつける, 日経マイクロデバイス, 29(1987)62.
  • 3) 荻原伸介ほか : VLSI用高性能エポキシ封止材, 日立化成テクニカルレポート, 8(1987)11.
  • 4) 例えば : 量産向き, 信頼性も上がる0.5mmのトランスファ成形, 日経マイクロデバイス, 33(1988)56.
  • 5) 酒井忠基, 山本伸治 : 射出成形を用いたICの樹脂封止成形, Polymer Preprints Japan, 34, 10(1985)3073.
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