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J-GLOBAL ID：200902072624691710   整理番号：91A0079484

画像処理・認識技術の実践講座 (18) 電子回路基板の外観検査技術

Practice course of image processing, recognition technology.(18).Appearance inspection technique of electronic circuit board.

著者 (2件)： 中川泰夫 (日立 生産技研) ,  二宮隆典 (日立 生産技研)
資料名： O plus E  (O plus E)
号： 132  ページ： 138-152  発行年： 1990年11月 
JST資料番号： Z0994A  ISSN： 0911-5943  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 電子回路基板の外観検査は,配線パターンに代表されるパターンの...

シソーラス用語： 電子回路 ,...

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 画像処理 ,  電子 ,  回路基板 ,  外観検査