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J-GLOBAL ID：200902074131900770   整理番号：91A0342201

重みづけされたランダムBISTのための新しい過程

A new procedure for weighted random built-in self-test.
著者 (3件)：
MURADALI F

MURADALI F について

(McGill Univ., Qu<span style=text-decoration:overline>e ́</span>bec, CAN)

McGill Univ., Qu<span style=text-decoration:overline>e ́</span>bec, CAN について

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AGARWAL V K

AGARWAL V K について

(McGill Univ., Qu<span style=text-decoration:overline>e ́</span>bec, CAN)

McGill Univ., Qu<span style=text-decoration:overline>e ́</span>bec, CAN について

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NADEAU-DOSTIE B

NADEAU-DOSTIE B について

(Bell-Northern Reserach (Corkstown), Ontario, CAN)

Bell-Northern Reserach (Corkstown), Ontario, CAN について


資料名：
Proceedings. International Test Conference  (Proceedings. International Test Conference)

Proceedings. International Test Conference について


巻： 1990  ページ： 660-669  発行年： 1990年 
JST資料番号： E0211B  ISSN： 1089-3539  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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大規模集積スキャン回路においてBISTを効率的に行うために,...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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回路試験

回路試験 について

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分類 (1件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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重みづけ

重みづけ について

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BIST

BIST について

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過程

過程 について


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