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J-GLOBAL ID：200902076410381441   整理番号：88A0054774

イオンビーム分析

A small cyclotron for use in ion beam analysis.
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著者 (4件)：
YONEZAWA H

YONEZAWA H について

(NTT Electrical Communications Lab., Ibaraki, JPN)

NTT Electrical Communications Lab., Ibaraki, JPN について

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SHIKANO K

SHIKANO K について

(NTT Electrical Communications Lab., Ibaraki, JPN)

NTT Electrical Communications Lab., Ibaraki, JPN について

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SHIGEMATSU T

SHIGEMATSU T について

(NTT Electrical Communications Lab., Ibaraki, JPN)

NTT Electrical Communications Lab., Ibaraki, JPN について

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KATOH M

KATOH M について

(NTT Electrical Communications Lab., Ibaraki, JPN)

NTT Electrical Communications Lab., Ibaraki, JPN について


資料名：
11th International Conference on Cyclotrons and Their Applications, 1986  (11th International Conference on Cyclotrons and Their Applications, 1986)

11th International Conference on Cyclotrons and Their Applications, 1986 について


ページ： 646-649  発行年： 1987年 
JST資料番号： K19870599  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
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イオンビーム分析用の小型サイクロトロンを建設し,半導体などの...
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痕跡分析

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分類 (1件)：
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無機物質中の元素の放射化学的分析 
(CC06022C)

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