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J-GLOBAL ID：200902076577985004   整理番号：88A0339559

疲れ寿命分布の低領域末端部のより正確な評価

More accurate estimates of the lower tail of a fatigue life distribution.
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著者 (3件)：
HAHN G

HAHN G について

(General Electric Co., NY, USA)

General Electric Co., NY, USA について

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MORGAN C

MORGAN C について

(General Electric Co., NY, USA)

General Electric Co., NY, USA について

, 
NELSON W

NELSON W について

(General Electric Co., NY, USA)

General Electric Co., NY, USA について


資料名：
Reliability and Process Control  (Reliability and Process Control)

Reliability and Process Control について


ページ： 129-144  発行年： 1986年 
JST資料番号： K19880331  ISBN： 0-87170-268-1  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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疲れ試験データの分布曲線における両端部の低領域での評価精度を...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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疲れ寿命

疲れ寿命 について

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分類 (1件)：
分類
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金属材料 
(HC05020S)

金属材料 について

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疲れ寿命 について

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分布

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評価

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