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J-GLOBAL ID：200902077575647086   整理番号：83A0295478

試験可能性に対する設計 概論

Design for testability - A survey.
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著者 (2件)：
WILLIAMS T W

WILLIAMS T W について

(Hewlett-Packard, CO)

Hewlett-Packard, CO について

, 
PARKER K P

PARKER K P について

(Hewlett-Packard, CO)

Hewlett-Packard, CO について


資料名：
Proceedings of the IEEE  (Proceedings of the IEEE)

Proceedings of the IEEE について


巻： 71  号： 1  ページ： 98-112  発行年： 1983年01月 
JST資料番号： D0378A  ISSN： 0018-9219  CODEN： IEEPAD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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単一縮退故障モデルを考えた試験系列発生とその検証を可制御性と...
シソーラス用語：
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超LSI

超LSI について

,...
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分類 (2件)：
分類
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論理回路 
(NC05070B)

論理回路 について

,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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試験可能性

試験可能性 について

, 
設計

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