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J-GLOBAL ID：200902079498498792   整理番号：87A0336642

交差電磁界型分析器の収差解析

Aberration analysis of a crossed-field analyzer.
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著者 (1件)：
TANG T-T

TANG T-T について

(Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN)

Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN について


資料名：
Optik  (Optik)

Optik について


巻： 74  号： 2  ページ： 51-56  発行年： 1986年09月 
JST資料番号： D0251A  ISSN： 0030-4026  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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交差(E×B)型分析器(Wienフィルタ分析器)の電界磁界を...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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イオン光学

イオン光学 について

,...
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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交差電磁場

交差電磁場 について


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分類 (2件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
粒子光学一般 
(BD02010J)

粒子光学一般 について

,  電子レンズ,電子エネルギー分析器 
(BD02040Q)

電子レンズ,電子エネルギー分析器 について

タイトルに関連する用語 (5件)：
タイトルに関連する用語
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交差

交差 について

, 
電磁界

電磁界 について

, 
分析器

分析器 について

, 
収差

収差 について

, 
解析

解析 について


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