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J-GLOBAL ID：200902080235196277   整理番号：90A0025925

特集 計測と制御のためのカスタムLSI カスタムLSIのレイアウト技法

Special issue on custom LSI for instrumentation and control. Layout techniques for custom LSI.

著者 (1件)： 築山修治 (中央大 理工)
資料名： 計測と制御  (Journal of the Society of Instrument and Control Engineers)
巻： 28  号： 10  ページ： 869-875  発行年： 1989年10月 
JST資料番号： F0131A  ISSN： 0453-4662  CODEN： KESEA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： カスタムLSIのレイアウト設計の手順を1)モジュール配置の基...

シソーラス用語： LSI【IC】 ,...
準シソーラス用語： カスタムIC ,...

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分類 (1件)： 集積回路一般  (NC03161C)

引用文献 (48件)：

• 1) T. Ohtsuki (ed): Layout Design and Verification, North-Holland (1986)
• 2) E. S. Kuh and T. Ohtsuki: Recent Advances in VLSI Layout, Proc. of IEEE (to appear)
• 3) 可児, 川西, 船津: 超 FLSICAD の基礎, オーム社 (1983)
• 4) 吉村: ネットワーク問題におけるシンプレックス法-LSIレイアウトコンパクション問題の一考察-電子情報通信学会論文誌 (A), J70-A-2. 156/163 (1980)
• 5) J. Cong, D. F. along and C. L. Lin: A Now Approach to Three- or Four-Layer Channel Routing, IEEE Trans CAD, CAD-7-10. 1094/1104 (1988)

タイトルに関連する用語 (4件)： 計測 ,  LSI ,  レイアウト ,  技法