SANZ J L C について
IBM Almaden Research Center, CA, USA について
JAIN A K について
Univ. California, CA, USA について
Journal of the Optical Society of America. A. Optics, Image Science, and Vision について
コンピュータビジョン について
パターン認識 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
プリント配線板 について
厚膜回路 について
検査 について
コンピュータビジョン について