文献

J-GLOBAL ID：200902080900465136   整理番号：90A0123162

電子プロープ微小分析法

Electron probe micro analysis.

著者 (1件)： 副島啓義 (島津製作所)
資料名： 表面科学  (JSSSJ)
巻： 10  号： 10  ページ： 710-717  発行年： 1989年11月 
JST資料番号： F0940B  ISSN： 0388-5321  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： EPMAの組成分析能力の向上により多くの元素の検出限界濃度は...

シソーラス用語： 表面分析 ,...

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分類 (2件)： 金属,合金の物理分析  (CC03040V) ,  その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A)

引用文献 (10件)：

• 1) 副島啓義 : “電子線マイクロアナリシス” (日刊工業新聞社, 1987).
• 2) 篠山哲明, 副島啓義 : 金属材料 15-5, 49 (1975).
• 3) 副島啓義 : 機械と工具 1,117 (1979).
• 4) 副島啓義 : 大阪電気科学館誌 4 (1968); 6 (1968).
• 5) 副島啓義 : CACS FORUM 7, 9 (1987).

タイトルに関連する用語 (4件)： 電子 ,  プロープ ,  微小 ,  分析法